北斗衛(wèi)星導(dǎo)航射頻芯片是導(dǎo)航系統(tǒng)中的關(guān)鍵部分,其指標(biāo)的優(yōu)劣決定著導(dǎo)航系統(tǒng)的導(dǎo)航精度。通過(guò)分析衛(wèi)星導(dǎo)航射頻芯片的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),針對(duì)主要參數(shù)進(jìn)行了測(cè)試分析。在基于集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATE)的基礎(chǔ)上,結(jié)合射頻測(cè)試設(shè)備實(shí)現(xiàn)衛(wèi)星導(dǎo)航射頻芯片的性能測(cè)試。為何衛(wèi)星導(dǎo)航要采用快速溫變?cè)囼?yàn)箱做測(cè)試，主要能加快效率提高產(chǎn)品的質(zhì)量及在不同環(huán)境下的使用壽命時(shí)間，能迅速提高衛(wèi)星導(dǎo)航電子中的老化性能。

衛(wèi)星導(dǎo)航電子主要的環(huán)境測(cè)試設(shè)備

1、采用高低溫低氣壓試驗(yàn)箱做測(cè)試，因?yàn)橐诳罩协h(huán)境下測(cè)試出信號(hào)，所以不同環(huán)境下模擬不同的氣候。

2、采用快速溫變?cè)囼?yàn)箱主要是在線(xiàn)性10/MIN升降溫到25/MIN。

3、采用冷熱沖擊試驗(yàn)箱，在用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在*短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

江蘇北斗現(xiàn)場(chǎng)交機(jī)設(shè)備拍攝